SEA1000S系列，已广泛被运用在RoHS/WEEE的风险管控，已获各电子、电机大厂使用。另外，针对金属、合金样品，可作快速元素分析、材质比对、确认等功能。SONY、Panasonic认可针对塑料及电子组件中有害重金属检测之X射线荧火分析仪（符合SONY STM-0085快速检测方法），为目前市面上最普及之桌上型机种。
产品特点：
1.高灵敏度：由于采用了大面积的检测窗口以及样品到检测器之间最短距离的设计，所以提高了X射线荧光的检测效果。
2.大型样品室：笔记本电脑也可以轻松放入的大型样品室。370(W)×320(D)×155(H)mm
3.高精度(内置波峰分离软件) ：运用新的数字波峰分离软件(DPD)技术，可以分离在Si(Li)检测器中也难以分离的能谱。
4.金属分析：无需另购标准物质，即可定量分析元素组成。
5.无需变压器：可按客户需求，调整出厂电压为100V或者220V，无需额外购置变压器。
6.无需液氮：配备有先进的电子冷却检测器，所以无需使用液氮，让日常操作更安全，同时可降低运行成本。
7.形状/厚度修正：运用散射线方式自动修正，因样品厚度及形状的变化对分析结果产生的影响。
8.材料修正功能(PVC修正)：自动区分PE/PVC，并对其分析结果进行修正。
9.即时生成测试报告的便捷性： 测量中可自动将样品名、批次号码等样品信息与测量结果生成报告书。只需点击其中的样品号码即可简单地确认各个样品的详细数据(测量条件、样品图像，能谱等)。
10.支持多种语言的软件系统：简体中文、繁体中文、英语、日语、韩语
产品规格
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可测量元素
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原子序数13(Al)～92(U)
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样品形态
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固体、粉末、液体
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X射线源
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小型空冷式X射线管球(Rh靶)
管电压：15kV、31kV、50kV
管电流：1mA
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检测器
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Si半导体检测器(无需液氮)
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分析范围
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Φ1mm、Φ5mm(自动切换)
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样品观察
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彩色CCD摄像头
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滤波器
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4种模式自动切换
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样品室
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370(W)×320(D)×155(H)mm
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重量
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90kg(不含电脑)
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X-ray Station
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台式电脑
(OS; MS-WindowsXP®)
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定性分析功能
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能谱测量、自动辨别，比较表示，
KLM标示表示，差异表示
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定量分析功能
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块体FP法，块体检量线法(标准曲线法)
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统计处理功能
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MS-EXCEL®
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报告制作
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MS-WORD®
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安装环境
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温度：10℃～35℃(±)5℃
湿度：35%～80%
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使用电源
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AC200~240V±10%、10A
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应用领域：
1.满足欧盟RoHS指令，以及各国针对电子电机产品中有有害物质含量的快速检测分析，例如Cd\Pb\Hg\Cr\Br等含量的快速分析。
2．针对目前IEC指令中之无卤素含量要求标准，利用XRF可建立快速、非破坏的检测方法，满足厂商简易的需求。
3.玩具中有害重金属的检测
4.分析电子产品电镀层的厚度
5.各类五金电镀件的镀层厚度管控分析
6.金属材料品质控管：合金中主成份的快速分析。
7.贵金属的分析鉴定：贵金属金、钯、铂、银等含量分析